Descripción
CF Production Tester
Se trata de un Bench Top Production Tester para Compact Flash (CF), Secure Digital (SD) y tarjetas linear Flash con 4 hasta 64 sockets. Como sistema de pruebas, el M7100 soporta una amplia gama de dispositivos Flash. Cada M7100 puede, dependiendo de los diferentes modules, captar hasta 8 módulos de prueba.
Funciones de prueba CF:
- Prueba rápida y paralela con scripts que son creados por software amigables
- ICC Mensuras
- VCC Margining
- Pruebas de velocidad de lectura/escritura
- Modos personalizados
Para la producción de los dispositivos Flash se require, de forma continua, un formateo Low Level, así como, diferentes interfaces de hardware. Gracias a su estructura modular, el M7100 se adapta rápidamente a formateos Low Level, pruebas de múltiples tarjetas flash como CF o tarjetas SD, IDE Single PATA, dispositivos Lienar Flash, etc.
Como complemento a la M7200, ofrecemos el M7100 Benchtop Tester que puede acomodar hasta ocho módulos y dispone, de este modo de hasta 32 o 64 ranuras (dependiendo de los módulos usados). Tanto el M7200 como el M7100 disponen del mismo Hard- y Software.
El M7100 dispone del sistema operativo Linux 17" LCD, teclado y ratón. Además tiene una interfaz 10/100 Ethernet .
Características
Feature |
SD |
MMC |
CF |
Sistema operativo Linux |
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Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin |
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Pruebas funcionales – Leer/Escribir/Verificar |
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Mensura Standby Icc |
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Pruebas de lectura/escritura |
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Low Level Controller Initialization/Firmware Download(1) |
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Unidad básica soporta 4/8/12/16/20/24/28/32 Sockets |
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Unidad básica soporta 8/16/24/32/40/48/56/64 Sockets |
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Disco duro cambiable |
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Fuente de alimentación independiente de los módulos de prueba. |
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Pruebas simultaneas (casi siempre posible) |
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GUI permite la selección, creación y edición de funciones JOB |
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Consola de terminal para la de entrada de comandos |
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Soporta TCL Scripting |
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Implementación de comandos específicos del proveedor |
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Burn-In Test (bucle continuo) |
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Duplicación de una imagen binaria |
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Módulos de prueba intercambiables |
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MOD 8 |
SD |
MMC |
CF |
Soporta todos los modos CF - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA und UDMA |
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Soporta Type I y Type II CF |
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Soporta IDE Flash Module |
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Soporta IDE Drive |
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Vcc Margin Testing (+/- 10%) a 3.3V y 5.0V |
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Verificación información IDDrive |
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Soporta dispositivos IDE/ATA personalizados a través de un adaptador. |
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Soporta direccionamiento LBA48 |
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MOD4 |
SD |
MMC |
CF |
Soporta SD2.0 (SDHC) |
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Soporta MMC 4.2 |
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Frecuencia SD/MMC ajustable |
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Vcc Margin Testing (+/- 10%) a 3.3V |
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