Détails
Testeur de cartes SD IMI M7100
L´appareil M7100 est un testeur de cartes Compact Flash, cartes SD et cartes Linear Flash équipé de 4 à 64 ports. C´est un appareil flexible capable de supporter une grande variété de supports.
Fonctions de teste CF:
- Tests rapides et en parallèle de scripts élaborés grâce à une interface graphique simple d´utilisation
- DC parametric leakage testing avec résolution 1 ua
- Mesures du Coefficient de corrélation intra-classe - IRDP
- VCC margining
- Test vitesse lecture/copie
- Modes personnalisés
- Test de commande incluant le formatage bas-niveau du contrôleur
Pour la production d´appareils flash un formatage bas-niveau des appareils flash et éventuellement une configuration des hardware sont requis. Grâce à sa structure modulaire, l´appareil M7100 passe rapidement en différents formatages bas-niveau et s´adapte ainsi à un grand nombre de cartes flash comme les cartes CF et SD, DE Single PATA, Linear Flash etc.
L´appareil M7100 fonctionne avec un système d´exploitation Linux avec écran LCD 17" et souris. Par ailleurs, il est équipé d´une interface éthernet 10/100.
Pour compléter votre système M7100, le testeur d´ingénierie CF/SD M7200 peut accueillir jusqu´à 2 modules. Les 2 appareils M7200 et M7100 sont équipés du même logicel et du même hardware.
Caractéristiques
Caractéristiques | SD | MMC | CF |
Système d´exploitation Linux | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Tests fonctionnels - lecture/écriture/vérification | x | x | x |
Mesures du Coefficient de corrélation intra-classe - IRDP | x | x | x |
Tests de rapidité lecture/écriture | x | x | x |
Formatage bas-niveau du contrôler/Téléchargement du firmware (1) | x | x | x |
Une unité de base soutient 4/8/12/16/20/24/28/32 ports | x | ||
Une unité de base soutient 8/16/24/32/40/48/56/64 ports | x | x | |
Disque système remplacable | x | x | x |
Alimentation indépendante des modules | x | x | x |
Test en parallèle (possible la plupart du temps) | x | x | x |
L´interface graphique permet le choix, la production et l´édition de fonctions JOB | x | x | x |
Terminal informatique pour l´entrée des commandes | x | x | x |
Compatibilité de scripts TCL | x | x | x |
Mise en oeuvre de commandes fabricant sur-mesure | x | x | x |
Test Burn-In (test en boucle) | x | x | x |
Duplication d´images binaires | x | x | x |
Module de test remplacable | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Compatibilité modes CF - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA et UDMA | x | ||
Compatibilité avec cartes CF de type I et de type II | x | ||
Compatibilité modules IDE Flash | x | ||
Compatibilité lecteur IDE | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rails 3.3V et 5.0V | x | ||
Vérification des informations IDDrive | x | ||
Compatibilité appareils IDE/ATA sur-mesure grâce à un adaptateur | x | ||
Compatibilité adressage LBA48 | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Compatibilité SD2.0 (SDHC) | x | ||
Compatibilité MMC 4.2 | x | ||
Fréquence d´horloge SD/MMC configurable | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rail 3.3V | x | x |
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