Détails
Testeur industriel CF
L´appareil M7100 est un testeur de production pour cartes Compact Flash (CF), Secure Digital (SD) et cartes Linear Flash équipé de 4 à 64 ports. Le M7100 est un système de test modulaire compatible avec un grand nombre d´appareils flash. Chaque appareil est capable d´accueillir jusqu´à 8 modules de test, indépendamment du nombre de modules utilisés, et peut atteindre un nombre maximal de 32 voire 64 ports.
Fonctions de test CF:
- Tests rapides et en parallèle de scripts élaborés grâce au logiciel simple d´utilisation
- Test DC Parametric Leakage avec résolution 1 ua
- Mesures du Coefficient de corrélation intra-classe - IRDP
- VCC Margining
- Tests de vitesse lecture/écriture
- Modes personnalisés
- Test de commande incluant le formatage bas-niveau du contrôleur
Pour la production d´appareils flash un formatage bas-niveau des appareils flash et éventuellement une configuration des hardware sont requis. Grâce à sa structure modulaire, l´appareil M7100 passe rapidement en différents formatages bas-niveau et s´adapte ainsi à un grand nombre de cartes flash comme les cartes CF et SD, DE Single PATA, Linear Flash etc.
En vue d´augmenter votre capacité de test, l´appareil M7100 complètera parfaitement le M7200. Il peut accueillir jusqu´à 8 modules du M7200 et met ainsi à votre disposition 32 voire 64 ports. Les appareils M7200 et M7100 disposent tous deux du même logicel et du même hardware, ainsi vous pouvez échanger des scripts entre les deux appareils sans avoir besoin de les modifier.
L´appareil M7100 fonctionne avec un système d´exploitation Linux avec écran LCD 17" et souris. Par ailleurs, il est équipé d´une interface éthernet 10/100.
Pour compléter votre système M7100, le testeur d´ingénierie M7200 peut accueillir jusqu´à 2 modules. Les 2 appareils M7200 et M7100 sont équipés du même logicel et du même hardware, ainsi vous pouvez échanger des scripts entre les deux appareils sans avoir besoin de les modifier.
Caractéristiques
Caractéristiques | SD | MMC | CF |
Système d´exploitation Linux | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Tests fonctionnels - lecture/écriture/vérification | x | x | x |
Mesures du Coefficient de corrélation intra-classe - IRDP | x | x | x |
Tests de rapidité lecture/écriture | x | x | x |
Formatage bas-niveau du contrôler/Téléchargement du firmware (1) | x | x | x |
Une unité de base soutient 4/8/12/16/20/24/28/32 ports | x | ||
Une unité de base soutient 8/16/24/32/40/48/56/64 ports | x | x | |
Disque système remplacable | x | x | x |
Alimentation indépendante des modules | x | x | x |
Test en parallèle (possible la plupart du temps) | x | x | x |
GUI permet le choix, la production et l´édition de fonctions JOB | x | x | x |
Terminal informatique pour l´entrée des commandes | x | x | x |
Compatibilité de scripts TCL | x | x | x |
Mise en oeuvre de commandes fabricant sur-mesure | x | x | x |
Test Burn-In (test en boucle) | x | x | x |
Duplication d´images binaires | x | x | x |
Module de test remplacable | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Compatibilité modes CF - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA et UDMA | x | ||
Compatibilité avec cartes CF de type I et de type II | x | ||
Compatibilité modules IDE Flash | x | ||
Compatibilité lecteur IDE | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rails 3.3V et 5.0V | x | ||
Vérification des informations IDDrive | x | ||
Compatibilité appareils IDE/ATA sur-mesure grâce à un adaptateur | x | ||
Compatibilité adressage LBA48 | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Compatibilité SD2.0 (SDHC) | x | ||
Compatibilité MMC 4.2 | x | ||
Fréquence d´horloge SD/MMC configurable | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) sur rail 3.3V | x | x | |
(1) Développement sur-mesure |
Logiciel
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