Beschreibung
CF Production Tester
Beim M7100 handelt es sich um einen Benchtop Produktionstester für Compact Flash (CF), Secure Digital (SD) und Linear Flash Karten mit 4 bis 64 Sockets. Als modulares Testsystem unterstützt der M7100 eine große Bandbreite an Flashgeräten. Jeder M7100 kann, abhängig von den verwendeten Modulen, bis zu acht Testmodule aufnehmen und so eine maximale Anzahl von 32 bzw. 64 Testsockets erreichen.
CF Testfunktionen:
- Schnelles und paralleles Testen mit Skripten, die durch die benutzerfreundliche Software erstellt werden
- DC Parametric Leakage Tests mit 1 ua Auflösung
- ICC Messungen
- VCC Margining
- Lese-/Schreibgeschwindigkeitstests
- Benutzerdefinierter Modus
- Kommandotests inklusive kontrollerspezifische Low Level Formatierung
Für die Produktion von Flashgeräten wird durchgehend eine Low Level Formatierung der Flashgeräte sowie möglicherweise verschiedene Hardware Schnittstellen benötigt. Dank seiner modularen Struktur kann der M7100 schnell auf verschiedene Low Level Formatierungen und das Testen einer Vielzahl von Flashkarten wie CF und SD Karten, IDE Single PATA, Linear Flash Geräte usw.,angepasst werden.
Als Ergänzung zum M7200 ist der M7100 Benchtop Tester verfügbar, der bis zu acht M7200 Module aufnehmen kann und so über bis zu 32 bzw. 64 Sockets verfügt (je nach verwendeten Modulen). Der M7200 und M7100 verfügen beide über die gleiche Hard- und Software. So können Skripte zwischen den beiden Testern getauscht werden, ohne diese vorher zu modifizieren.
Der M7100 läuft auf einem vollen Linux Betriebssystem mit 17" LCD, Tastatur und Maus. Zudem verfügt er über eine 10/100 Ethernet Schnittstelle.
Als Ergänzung zu unserem M7100 ist der M7200 Engineering Tester verfügbar, der bis zu zwei M7100 Module aufnehmen kann. Der M7100 und der M7200 verfügen beide über die gleiche Hard- und Software. So können Skripte zwischn den beiden Testern getauscht werden, ohne die Notwendigkeit, diese vorher zu modifizieren.
Eigenschaften
Feature | SD | MMC | CF |
Volles Linux Betriebssystem | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Funktionales Testen - Lesen/Schreiben/Verifizieren | x | x | x |
Standby Icc Messungen | x | x | x |
Lese-/Schreibgeschwindigkeitstests | x | x | x |
Low Level Controller Initialisierung/Firmware Download (1) | x | x | x |
Basiseinheit unterstützt 4/8/12/16/20/24/28/32 Sockets | x | ||
Basiseinheit unterstützt 8/16/24/32/40/48/56/64 Sockets | x | x | |
Wechselbare Systemfestplatte | x | x | x |
Unabhängige Stromversorgung der Test Modules | x | x | x |
Paralleles Testen (Meistens möglich) | x | x | x |
GUI erlaubt Auswahl, Erstellen und Editieren von JOB Funktionen | x | x | x |
Terminal Konsole zur Kommandoeingabe | x | x | x |
Unterstützt TCL Scripting | x | x | x |
Implementierung herstellerspezifischer Kommandos | x | x | x |
Burn-In Test (kontinuierliche Schleife) | x | x | x |
Duplikation von einem Binärabbild | x | x | x |
Wechselbare Testmodule | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Unterstützt alle CF Modi - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA und UDMA | x | ||
Unterstützt Type I und Type II CF | x | ||
Unterstützt IDE Flash Module | x | ||
Unterstützt IDE Drive | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) auf der 3.3V und 5.0V Schiene | x | ||
Verifikation IDDrive Information | x | ||
Unterstützt kundenspezifische IDE/ATA Geräte durch Adapter | x | ||
Unterstützt LBA48 Addressierung | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Unterstützt SD2.0 (SDHC) | x | ||
Unterstützt MMC 4.2 | x | ||
Einstellbare SD/MMC Taktrate | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) auf der 3.3V Schiene | x | x |
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