Beschreibung
CF-SD-MMC Engineering Tester
Bei unserem M7200 handelt es sich um einen Engineering Tester für Flashgeräte wie IDE ATA SSDs, Compact Flash Karten, SD Karten und Linear Flashkarten. Durch seine wechselbaren Module verfügt der M7200 über die Möglichkeit, verschiedene Flashtypen zu testen. Jeder M7200 kann mit bis zu zwei Modulen betrieben werden und unterstützt so 8 oder gar 16 Geräte, abhängig von der Anzahl der Sockets pro Modul.
CF-SD-MMC Test Funktionen:
- Schnelles und paralleles Testen mit Skripten, die durch die benutzerfreundliche Software erstellt werden
- Testskripte können entweder auf der lokalen Festplatte oder auf einem Server im Netz gespeichert werden
- DC Parametric Leakage Tests
- ICC Messungen
- VCC Margining
- Lese-/Schreibgeschwindigkeitstests
- Benutzerdefinierte Modus und Kommandotests
Für die Produktion von Flashgeräten wird durchgehend eine Low Level Formatierung der Flashgeräte mit verschiedenen Hardware Schnittstellen benötigt. Der modulare Aufbau und die Software erlauben es dem M7200, Low Level Formatierungen und Tests auf vielen verschiedenen Flashgeräten durchzuführen. Dazu zählen CF Karten, SD Karten, IDE Single Chip PATA Geräte, Linear Flashspeichergeräte u.a.
Der M7200 läuft auf einem vollen Linux Betriebssystem mit 17" LCD, Tastatur und Maus. Zudem verfügt er über eine 10/100 Ethernet Schnittstelle.
Als Ergänzung zu unserem M7200 ist der M7100 Benchtop Tester erhältlich, der bis zu acht M7200 Module aufnehmen kann und dadurch über bis zu 32 bzw. 64 Sockets verfügt (je nach benutzten Modulen). Sowohl der M7200 als auch der M7100 verfügen über die gleiche Hard- und Software. Dadurch können Skripte zwischen den beiden Testern getauscht werden, ohne die Notwendigkeit, diese vorher zu modifizieren.
Eigenschaften
Feature | SD | MMC | CF |
Volles Linux Betriebssystem | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Funktionales Testen - Lesen/Schreiben/Verifizieren | x | x | x |
Standby Icc Messungen | x | x | x |
Lese-/Schreibgeschwindigkeitstests | x | x | x |
Low Level Controller Initialisierung/Firmware Download(1) | x | x | x |
Basiseinheit unterstützt 4-8 Sockets | x | ||
Basiseinheit unterstützt 8-16 Sockets | x | x | |
Wechselbare Systemfestplatte | x | x | x |
Unabhängige Stromversorgung der Test Module | x | x | x |
Paralleles Testen (meistens möglich) | x | x | x |
GUI erlaubt Auswahl, Erstellen und Editieren von JOB Funktionen | x | x | x |
Terminal Konsole zur Kommandoeingabe | x | x | x |
Unterstützt TCL Scripting | x | x | x |
Implementierung herstellerspezifischer Kommandos | x | x | x |
Burn-In Test (kontinuierliche Schleife) | x | x | x |
Duplikation eines Binärabbilds | x | x | x |
Wechselbare Testmodule | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Unterstützt alle CF Modi - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA und UDMA | x | ||
Unterstützt Type I und Type II CF | x | ||
Unterstützt IDE Flash Module | x | ||
Unterstützt IDE Drive | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) auf der 3.3V und 5.0V Schiene | x | ||
Verifikation IDDrive Information | x | ||
Unterstützt kundenspezifische IDE/ATA Geräte durch Adapter | x | ||
Unterstützt LBA48 Addressierung | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Unterstützt SD2.0 (SDHC) | x | ||
Unterstützt MMC 4.2 | x | ||
Einstellbare SD/MMC Taktrate | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) auf der 3.3V Schiene | x | x |
Software
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