περιγραφη
CF Production Tester
Στον M7100 πρόκειται για έναν Benchtop δοκιμαστή παραγωγής για Compact Flash (CF), Secure Digital (SD) και Linear Flash κάρτε με 4 έως 64 Sockets. Ως modular Testsystem υποστηρίζει ο M7100 ένα ευτύ φάσμα Flashg συσκευών. Ο κάθε M7100 μπορεί, ανεξάρτητα από τα χρησιμοποιούμενα Modulens, να υποδεχτεί έως οκτώ Testmodules και έτσι να φτάσει ένα μέγιστο αριθμό από 32 bzw. 64 Testsockets.
CF Testfunktionen:
- Γρήγορος και παράλληλος έλεγχος με σενάρια, τα οποία δημιουργούνται μέσω του φιλικού προς το χρήστη λογισμικού
- DC Parametric Leakage Tests με 1 ua ανάλυση
- ICC μετρήσεις
- VCC Margining
- Δοκιμή ταχύτητας ανάγνωσης-/εγγραφής
- User defined Modus
- Commando Tests συμπεριλαμβανομένου control specific Low Level μορφοποιήσεις
Για την παραγωγή από Flash συσκευές απαιτείται μια συνεχής Low Level μορφοποίηση καθώς και πιθανώς διάφορες Hardware διεπαφές. Χάρη της modular δομής του μπορεί ο M7100 να προσαρμοστεί γρήγορα σε διαφορετικές Low Level μορφοποιήσεις και σε έλεγχο μια ποικιλίας Flash καρτών όπως CF και SD κάρτες , IDE Single PATA, Linear Flash συσκευές κλπ.
Ως συμπλήρομα στον M7200 είναι ο M7100 Benchtop Tester διαθέσιμος, ο οποίος μπορεί να υποδεχτεί έως οκτώ M7200 Modules και διαθέτει έτισ μέχρι 32 bzw. 64 Sockets (ανάλογα με το χρησιμοποιούμενο Module). Ο M7200 και οM7100 διαθέτουν και οι δύο τα ίδια Hard- και Software. Έτσι μπορούν σενάρια μεταξύ των δύο ελεγκτών να ανταλλαχτούν, χωρίς αυτά να τροποποιηθούν προηγουμένως.
Το M7100 λειτουργεί σε ένα πλήρες Linux σύστημα λειτουργίας με 17" LCD, πληκτρολόγιο και ποντίκι. Έχει επίσης διασύνδεση 10/100 Ethernet .
Ως συμπλήρωμα στον M7100 είναι ο M7200 Engineering Tester διαθέσιμος, ο οποίος μπορεί να υποδεχτεί έως δύο M7100 Module. Ο M7200 και ο M7100 διαθέτουν και οι δύο τα ίδια Hard- και Software. Έτσι μπορούν σενάρια μεταξύ των δύο ελεγκτών να ανταλλαχτούν, χωρίς αυτά να τροποποιηθούν προηγουμένως.
Χαρακτηριστικά
Χαρακτηριστικό | SD | MMC | CF |
Πλήρες Linux σύστημα λειτουργίας | x | x | x |
Parametric Tests - Leakage To Ground, Leakage To Vcc, Cross Leakage, Open Pin | x | x | x |
Λειτουργική δοκιμής - ανάγνωσης/εγγραφής/επαλήθευσης | x | x | x |
Standby Icc μετρήσεις | x | x | x |
Δοκιμή ταχύτητας εγγραφής-/ανάγνωσης | x | x | x |
Low Level Controller αρχικοποίηση/Firmware Download (1) | x | x | x |
Μονάδα βάσης υποστηρίζει 4/8/12/16/20/24/28/32 Sockets | x | ||
Μονάδα βάσης υποστηρίζει 8/16/24/32/40/48/56/64 Sockets | x | x | |
Ανταλλάξιμος σκληρός δίσκος συστήματος | x | x | x |
Ανεξάρτητη τροφοδοσία του Test Modul | x | x | x |
Παράλληλος έλεγχος (τις περισσότερες φορές δυνατόν) | x | x | x |
GUI επιτρέπει Επιλογή, Δημιουργία και Επεξεργασία από JOB Χαρακτηριστικά | x | x | x |
Κονσόλα τερματικού για είσοδο εντολών | x | x | x |
Υποστηρίζει TCL Scripting | x | x | x |
Εφαρμογή εντελών συγκεκριμένων κατασκευαστών | x | x | x |
Burn-In Test (continuous loop) | x | x | x |
Duplication από ένα Binary image | x | x | x |
Ανταλλάξιμα Testmodule | x | x | x |
MOD 8 | SD | MMC | CF |
Υποστηρίζει όλα τα CF Modi - Memory Map, I/O Map,True IDE, DMA και UDMA | x | ||
Υποστηρίζει Τύπος I και Τύπος II CF | x | ||
Υποστηρίζει IDE Flash Module | x | ||
Υποστηρίζει IDE Drive | x | ||
Vcc Margin Testing (+/- 10%) στην 3.3V και 5.0V γραμμή | x | ||
Επαλήθευση IDDrive πληροφοριών | x | ||
Υποστηρίζει user defined IDE/ATA συσκευές μέσω Adapter | x | ||
Υποστηρίζει LBA48 Adressing | x | ||
MOD4 | SD | MMC | CF |
Υποστηρίζει SD2.0 (SDHC) | x | ||
Υποστηρίζει MMC 4.2 | x | ||
Ρυθμιζόμενο SD/MMC Taktrate | x | x | |
Vcc Margin Testing (+/- 10%) στην 3.3V γραμμή | x | x | |
(1) Customer specific ανάπτυξη |
Software
κριτικες
Γινε ο πρωτος που θα γραψει κριτικη για αυτο το αντικειμενο
καμια διαθεσιμη κριτικη